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普通掃描電鏡的電子槍發(fā)射出電子束，電子在電場(chǎng)的作用下加速，經(jīng)過(guò)兩三個(gè)電磁聚光鏡后在樣品表面聚焦成極細(xì)的電子束。該細(xì)小的電子束在末透鏡的上方的雙偏轉(zhuǎn)線圈作用下在樣品表面進(jìn)行掃描，被加速的電子到達(dá)樣品的表面，樣品原子的外層電子受激發(fā)離開(kāi)樣品形成二次電子被探測(cè)器俘獲后轉(zhuǎn)化成的信號(hào)，在顯像管熒光屏上形成的圖像亮點(diǎn)即掃描電鏡圖像，圖像與樣品表面形態(tài)有密切的關(guān)系。如二次電子，背散射電子，吸收電子、X射線、俄歇電子、陰極發(fā)光等。這些信號(hào)被按順序、成比例的交換成視頻信號(hào)、檢測(cè)放大處理成像，從...

X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，精確的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。主要應(yīng)用于樣品的物相定性或定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料的結(jié)構(gòu)宏觀應(yīng)力的測(cè)定、晶粒大小測(cè)定、結(jié)晶度測(cè)定等。使用的注意事項(xiàng)有哪些？1.不要像普通垃圾一樣丟棄X射線管和探測(cè)器。2.請(qǐng)?jiān)陉P(guān)門時(shí)，盡量避免過(guò)度用力，以免影響安全系統(tǒng)。3.定期清潔儀器內(nèi)部，以免灰塵聚集在某些重要部件的表面上，影響儀器的正常工作。4.光管水路需要定期檢查和清潔。5.人員長(zhǎng)時(shí)間離開(kāi)后必須關(guān)機(jī)，20分鐘后關(guān)循...

臺(tái)式電鏡SEM在行業(yè)當(dāng)中有著非常重要的作用，它可以放大并觀察物體表面結(jié)構(gòu)，現(xiàn)如今被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、冶金、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體材料與器件、地質(zhì)勘探、病蟲(chóng)害的防治、災(zāi)害鑒定、寶石鑒定、工業(yè)生產(chǎn)中的產(chǎn)品質(zhì)量鑒定及生產(chǎn)工藝控制等。同時(shí)臺(tái)式掃描電鏡SEM它在特點(diǎn)方面也非常突出，比如擁有非常小的體積和操作簡(jiǎn)單易用等。臺(tái)式電鏡SEM使用的注意事項(xiàng)：使用的過(guò)程中，體積小，使用方便，減少占用空間的同時(shí)，讓大家在使用儀器的時(shí)候變的更方便；在操作和維護(hù)的時(shí)候也非常簡(jiǎn)單，能夠?yàn)槭褂谜邷p少很多不必...

超高壓XRD是基于多晶樣品對(duì)X射線的衍射效應(yīng)，對(duì)樣品中各組份的存在形態(tài)進(jìn)行分析測(cè)定的方法.測(cè)定的內(nèi)容包括：各組份的結(jié)晶情況，所屬的晶相，晶體的結(jié)構(gòu)，各種元素在晶體中的價(jià)態(tài)、成鍵狀態(tài)等。即在測(cè)定各種元素在樣品中含量的基礎(chǔ)上，還要進(jìn)一步確定各種晶態(tài)組分的結(jié)構(gòu)和含量。衍射的概念：波的重要特性：波的疊加性，干涉現(xiàn)象，衍射現(xiàn)象。波的疊加性：當(dāng)多于一列的同類波在空間相遇并共存時(shí)，總的波是各個(gè)分波的矢量和，而各個(gè)分波相互并不影響，分開(kāi)后仍然保持各自的性質(zhì)不變。干涉：由于波的疊加作用，當(dāng)兩列...

鎢燈絲電鏡是一種重要的測(cè)量分析儀器，在很多的實(shí)驗(yàn)室中都離不開(kāi)鎢燈絲掃描電鏡，出于到位的原理以及性能，鎢燈絲掃描電鏡的使用顯得更加的出色。對(duì)于使用者而言選擇合適的鎢燈絲掃描電鏡廠家顯得很重要。它性能是很多人關(guān)心的因素，所謂的性能包括兩個(gè)因素，包括鎢燈絲掃描電鏡的操作性能以及技術(shù)參數(shù)。先是操作性能，在設(shè)計(jì)機(jī)器的過(guò)程中操作性能是重點(diǎn)考察的因素，考驗(yàn)是設(shè)備部件之間的相互銜接，能否在測(cè)量的過(guò)程中更加的操作鎢燈絲掃描電鏡是影響設(shè)備性能的關(guān)鍵因素。不僅是鎢燈絲掃描電鏡操作性能，鎢燈絲掃描電...

掃描電子顯微鏡（SEM）利用二次電子信號(hào)成像來(lái)觀察樣品的表面形態(tài)，在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。SEM在高分子中的常見(jiàn)應(yīng)用：（1）觀察高聚物的形態(tài)和結(jié)構(gòu)；（2）觀察結(jié)晶高聚物的晶態(tài)結(jié)構(gòu)；（3）研究材料共混相容性；（4）觀察高分子納米材料結(jié)構(gòu)；（5）表征高分子材料的降解性；（6）研究高分子材料的生物相容性；（7）研究多孔材料表面或斷面的孔特征。和光學(xué)顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點(diǎn)：(1)能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，樣品的尺寸可大至120mm×80...

巖礦的成分測(cè)定與分析是地質(zhì)工作的一個(gè)重要組成部分，它的研究對(duì)象主要是天然礦產(chǎn)，如巖石、礦物等；主要任務(wù)是利用一些技術(shù)手段(儀器分析、化學(xué)分析等)，對(duì)礦物巖石的成分在不同賦存狀態(tài)下的含量及其化學(xué)組成進(jìn)行測(cè)定與分析。巖礦成分的測(cè)定與分析工作具有重要的意義，如何快速準(zhǔn)確的發(fā)現(xiàn)巖礦并給與正確的評(píng)價(jià)，是廣大地質(zhì)工作者的重要任務(wù)?？梢哉f(shuō)，巖礦成分的測(cè)定與分析工作與我國(guó)的社會(huì)主義現(xiàn)代化建設(shè)有著密不可分的聯(lián)系。巖礦分析系統(tǒng)是一類能使物體離子化，并通過(guò)適當(dāng)?shù)碾妶?chǎng)、磁場(chǎng)將它們按質(zhì)荷比分離、檢測(cè)分...